METTLER梅特勒电子分析天平XPE105DR
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商品详情
静电检测
自动检测任何出现在称量室中可能导致不合格结果的相关静电荷。
轻松的天平管理
创新性 StatusLightTM 可以快速提供天平状态信息,实现即时质量控制。采用 Test Manager 确保合规性。
可轻松升级
XPE 天平通过自动化粉末和液体加样开始您的流程,是一个完美的起点。利用 Quantos 加样模块轻松升级。
技术参数：
| 大秤量 | 120g/41g |
| 可读性 | 0.1mg;0.01mg |
| 重复性（校验砝码） | 0.015mg(5g) |
| 最小称量值 (USP)，典型值 | 14 mg |
| 校正 | 内部/proFACT高级版 |
| 自动最小称量值(USP)，典型值 | 10mg |
| 秤盘外形尺寸(宽x深) | 73mmx78mm |
| 合法交易 | No |
| 稳定时间 | 1.5s |
| 重复性（典型） | 7µg |
| 线性误差（典型值）± | 0.1mg |
| 尺寸 (高x宽) | 322mmx263mm |
| 物料号 (s) | 30087924 |
